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北京華瑞森科技ir-2雙波段發(fā)射率測試儀 、遠(yuǎn)紅外線測試儀    

北京華瑞森科技發(fā)展有限公司的ir-2雙波段發(fā)射率測量儀可在航天航空紅外隱身、紅外烘烤、建材、造紙、紡織等行業(yè)用于對(duì)材料紅外輻射特性的測量研究。       

     發(fā)射率是材料熱物性的基本參數(shù)之一。近幾年來隨著紅外技術(shù)、輻射傳熱學(xué)、輻射測量、太陽能研究、材料科學(xué)以及軍事目標(biāo)穩(wěn)身技術(shù)的發(fā)展。      

北京華瑞森科技發(fā)展有限公司的ir-2雙波段發(fā)射率測量儀是采用反射率法的測試原理，即通過采用主動(dòng)黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率，進(jìn)而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率的。

它能測量常溫樣品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三個(gè)波段的發(fā)射率。當(dāng)有特殊需要時(shí)，它可通過專用的控溫加熱裝置在常溫300℃溫度范圍內(nèi)加熱樣品，從而對(duì)樣品進(jìn)行發(fā)射率變溫測量。

北京華瑞森科技發(fā)展有限公司的ir-2雙波段發(fā)射率測量儀特點(diǎn)：

1.儀器中裝有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源和六位高精度微機(jī)控溫儀（能顯示到1mk）不僅使它具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍，而且還極大地提高了其在測量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。

2.采用獨(dú)特的光學(xué)調(diào)制技術(shù)，測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。

3.為了確保儀器的測量精度，在儀器設(shè)計(jì)中，考慮到樣品漫反射引起的測量誤差，除鏡反射（mr）探通道外，還增設(shè)了專門的漫反射（dr）補(bǔ)償通道。

 4.在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù)，較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測，進(jìn)一步提高了儀器性能。

5.操作簡單，使用方便，測量速度快。 

6.可按需更換濾光片，在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測試。 

7.在測量過程是不會(huì)損傷被測樣品。 

8.帶rs-232串口及復(fù)位鍵rst。

   主要技術(shù)指標(biāo)：

1.測量波段3～5μm，8～14μm、1～22μm（若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片）

2.發(fā)射率測量范圍：0.01～0.99

3.靈敏度ne△ε：0.001

4.示值誤差：±0.02（ε>0.50）

5.重復(fù)性：±0.01

6.樣品溫度：常溫（特殊用戶為常溫～300℃）

7.樣品尺寸：直徑≥50mm

8.測量時(shí)間：3秒

9.顯示方法：led數(shù)字顯示，末位0.001

10.電源：交流22v  50hz